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小麦玉米不完善粒测定仪IN-WS10

产品价格:电话联系
规格型号:IN-WS10
不完善粒测定仪是以小麦/高粱/大米等作物不完善粒作为测定对象,在自动获取粮食图像后,通过模式识别或深度学习等技术构建神经网络模型,实时分析粮食特征并计算出不完善粒百分比的专用仪器。
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作者:来因科技



  • 产品概述
  • 图文介绍

    详细产品介绍及技术参数

    1 仪器简介

    不完善粒测定仪是以小麦/高粱/大米等作物不完善粒作为测定对象,在自动获取粮食图像后,通过模式识别或深度学习等技术构建神经网络模型,实时分析粮食特征并计算出不完善粒百分比的专用仪器。

    2 产品参数

    仪器能够按照 GB5GB53、 GB/T 5494、对小麦/高粱/大米/玉米等作物不完善粒及病斑粒、虫蚀粒、破损粒、 生芽粒、生霉粒等分类的定义快速检测不完善粒总量及其分类各项含量。后续通过自主学习可以扩展到多品种作物。

    2 检测重量:一次检测量:≥50g。

    3 检测速度:每 50g 样品检测时间≤3min。  

    4 检测精度:双实验允差: ≤0.5%。

    5 检测方法:振动送料,高清图像采集,保留样品的原始状态,对样品无破坏。

    6 检测结果:以质量百分比为结果输出方式,检测结果包含不完善粒总量及其分项含量。

    7 数据处理与存储:自动完成检测数据处理;存储≥二十万张视频图像照片,存储空间不低于 500GB。

    8 显示:7寸或寸屏幕选择,可视化显示界面,触屏功能,直观的菜单导航,整合帮助功能。

    9 输出:USB2.0 输出接口和网线接口。数据自动保存,提供历史检测记录的快捷导出功能。

    系统启动时间:≤in。菜单语言:中文等。

    环境适应性:温度:0℃-50℃;湿度:≤85%。

    环境适应性 温度:0℃-40℃;湿度:≤ 85%。

    供电 AC220V±20V,50Hz/60Hz

    功耗:功率不高于 800W。

    3 仪器配置最低要求

    2.不完善粒检测主机 台。

    2.2 内置电脑台及相应 的操作软件 套。

    2.3 使用说明书。

    2.4 出厂合格证。



来源:本站







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